Hochempfindliche Flüssigpartikelzähler: HSLIS
4 Modelle, Sensitivität: 0,05 - 1,0 μm
Produktdetails
Der HSLIS-Flüssigkeitspartikelzähler bietet eine kontinuierliche Echtzeit-Partikelüberwachung des Verschmutzungsgrads in korrosiven Flüssigkeiten, einschließlich Fluorwasserstoff (HF), und ist Teil der kompletten Produktreihe der Flüssigkeitspartikelzähler von Particle Measuring Systems (PMS).
Der HSLIS-Flüssigkeitspartikelzähler von Particle Measuring Systems macht es einfach, die Eigenschaften Ihrer Arbeitsflüssigkeit jederzeit zu verstehen. Die Kombination aus hoher Empfindlichkeit und niedrigen Kosten macht ihn ideal, wenn eine große Anzahl von Sensoren und/oder Langzeittrends erforderlich sind. Die Integration des HSLIS-Flüssigkeitspartikelzählers in ein Anlagenüberwachungssystem mit FacilityNet-Software bietet eine kostengünstige Möglichkeit, mehrere Durchflusssysteme zu überwachen und spezielle lokale Anzeige- und Steuerungsfunktionen bereitzustellen.
HSLIS Produkt-Optionen:
Partikelzähler für entionisiertes Wasser: HSLIS-M50e – Empfindlichkeitsbereich: 0,05 – 0,2 µm
Partikelzähler für Wasser und Chemikalien: HSLIS-M65e – Empfindlichkeitsbereich: 0,065 – 0,2 µm
Wasser- und Chemiepartikelzähler: HSLIS-M65 ANSI/ISA-kompatibel – Empfindlichkeitsbereich: 0,065 – 0,2 µm
Chemischer Partikelzähler: HSLIS-M100e – Empfindlichkeitsbereich: 0,1 – 1,0 µm
Erfahren Sie mehr über die gesamte Produktpalette der Partikelzähler von Particle Measuring Systems (PMS).
Die branchenführenden 20-nm-Partikelzähler sind das Ultra DI® 20 Plus oder das Chem 20™.
Ressourcen
-
Partikelzähler für deionisiertes Wasser: HSLIS-M50e
-
Flüssigpartikelzähler: HSLIS-M65e
-
Chemischer Partikelzähler: HSLIS-M100e
-
Flüssigpartikelzähler: HSLIS-M65 ANSI/ISA-kompatibel
- BEDIENUNGSANLEITUNG: HSLIS e-Series Particle Counter
- Webinar: Monitoring Guidelines for the Control of Particle Contamination in High-Purity Process Chemicals
- WEBINAR: Charakterisierung der kritischen Faktoren, die die Stabilisierungszeit von Partikelmessungen in Reinstwassersystemen beeinflussen
- WEBINAR: Neue Technologien und Optionen für die Echtzeit-Überwachung von Aerosolpartikeln in Halbleiterprozessanlagen
